We describe heavy ion test results for two new SEU tolerant latches based on transition nand gates, one for single rail asynchronous and the other for dual rail synchronous designs, implemented in AMI 0.5microprocess.


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    Titel :

    SEU Performance of TAG Based Flip Flops


    Beteiligte:
    R. L. Shuler (Autor:in) / C. Kouba (Autor:in) / P. M. O'Neill (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    2005


    Format / Umfang :

    5 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch






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