Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Extremely sensitive element analysis by laser ablation atomic fluorescence spectroscopy


    Beteiligte:
    Oki, Y. (Autor:in) / Maeda, M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1995-01-01


    Format / Umfang :

    289893 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    Nanometer-Scale Surface Element Analysis Using Laser Ablation Atomic Fluorescence Spectroscopy

    Higotani, T. / Kim, M. K. / Takao, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001



    Trace element analysis of nanometer-scaled solid state surface by laser ablation atomic fluorescence spectroscopy

    Nakamura, D. / Takao, T. / Oki, Y. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003