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    Titel :

    A new method of reliability testing for C-MOS VLSIs evaluation


    Weitere Titelangaben:

    Ein neues Verfahren fuer Zuverlaessigkeitstests an C-MOS VLSI


    Beteiligte:
    Himi,H. (Autor:in) / Hara,K. (Autor:in) / Mori,H. (Autor:in) / endo,K. (Autor:in) / Nippondenso,JP

    Erscheinungsdatum :

    1987


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    SAE-Paper;871292;1987;Mobility:The Technical Challenge, 4.Int.Pacific Conf.on Automot.Engng.;SAE Proc.; P-212,Vol.2


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    VLSIs for Moving Colour Picture Compression/Decompression

    Tamitani, I. / Nishitani, T. | British Library Online Contents | 1994


    A New Method of Reliability Testing for C-MOS VLSI's Evaluation

    Himi, Hiroaki / Mori, Hiroshi / Hara, Kunihiko et al. | SAE Technical Papers | 1987


    TYRE RELIABILITY TESTING METHOD

    OKABE TARO / YAMAZAKI KAZUMI / SARASHI HIROTAKA et al. | Europäisches Patentamt | 2017

    Freier Zugriff


    Targeted Testing for Reliability Validation

    Soundappan, P. / Nikolaidis, E. / Dheenadayalan, B. et al. | British Library Conference Proceedings | 2004