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    Titel :

    In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie


    Weitere Titelangaben:

    In situ characterization of electronic features of Si-nanoparrticles with impedance spectroscopy.


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2006


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    Technische Mitteilungen HT Essen;99(2006)1/2 ;68-73


    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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