Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Linking artificial intelligence (AI) and computer aided engineering (CAE) to analyze the testability of electronic designs


    Beteiligte:
    OFSTHUN, STAN (Autor:in)

    Kongress:

    7th Computers in Aerospace Conference ; 1989 ; Monterey , CA , U.S.A.



    Erscheinungsdatum :

    1989-01-01



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch