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    Titel :

    Characterization of femtosecond laser sulfur doped silicon


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Ausgabe :

    1. Aufl.


    Erscheinungsdatum :

    2014


    Format / Umfang :

    II, 107 S.


    Anmerkungen:

    210 mm x 148 mm, 162 g
    Ill., graph. Darst.



    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch , Deutsch



    Klassifikation :

    RVK:    ZN 5160 / ZN 3460
    BKL:    33.72 Halbleiterphysik / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher



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