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    Titel :

    Machine vision systems for inspection and metrology VII : 4 - 5 November 1998, Boston, Massachusetts



    Kongress:

    Conference ; 1998 ; Boston, Mass. Conference (Boston, Mass.) : 1998.11.04-05


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1998


    Format / Umfang :

    XI, 386 S



    Medientyp :

    Konferenzband


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    DDC:    670.42/5