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    Titel :

    Jahresbericht 1965/66 / Siemens Aktiengesellschaft ; T. III: Strahlentestuntersuchungen mit 500/750-keV-Elektronen und mit 30/40-keV-Elektronen an Silizium-npn-Planar-Transistoren




    Erscheinungsdatum :

    1965


    Format / Umfang :

    S. 111 - 165


    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt