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    Titel :

    Influence of trap filling and junction capacitance charging on photovoltage transients in HgCdTe-based infrared photodiode


    Beteiligte:
    Cui, H. (Autor:in) / Xu, Y. (Autor:in) / Gao, W. (Autor:in) / Liu, C. (Autor:in) / Wang, J. (Autor:in) / Wang, C. (Autor:in) / Yang, J. (Autor:in) / Tang, Z. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2014-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    537.5



    HgCdTe photodiode performance degradation

    Bovina, L. A. / Boltar, K. O. / Stafeev, V. I. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    The HgCdTe electron avalanche photodiode

    Beck, J.D. / Wan, C.-F. / Kinch, M.A. et al. | IEEE | 2003


    The HgCdTe Electron Avalanche Photodiode

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003


    Analysis of the mechanisms of electron recombination in HgCdTe infrared photodiode

    Cui, H. / Zeng, J. / Tang, N. et al. | British Library Online Contents | 2013