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    Titel :

    High-Resolution Measurement of Resonant Wave Patterns by Perturbing the Evanescent Field Using a Nanosized Probe in a Transmission Scanning Near-Field Optical Microscopy Configuration


    Beteiligte:
    Hopman, W. C. L. (Autor:in) / Stoffer, R. (Autor:in) / de Ridder, R. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2007-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692