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    Titel :

    Estimation of electron probe profile from SEM image through wavelet multiresolution analysis for inline SEM inspection


    Beteiligte:
    Nakamae, K. (Autor:in) / Chikahisa, M. (Autor:in) / Fujioka, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IMAGE AND VISION COMPUTING ; 25 , 7 ; 1117-1123


    Erscheinungsdatum :

    2007-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.367



    Wavelet-based Multiresolution Stochastic Image Models

    Zhang, J. / Tran, Q. / IEEE; Computer Society; Technical Committee for Pattern Analysis and Machine Intelligence | British Library Conference Proceedings | 1995


    Inline Turbine Blade Inspection

    Neuhäusler, S. | TIBKAT | 2008



    A wavelet multiresolution analysis for spatio-temporal signals

    Burns, T.J. / Rogers, S.K. / Oxley, M.E. et al. | IEEE | 1996