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    Titel :

    Oxygen-related micro-defects in Czochralski silicon annealed at enhanced stress conditions


    Beteiligte:
    Misiuk, A. (Autor:in) / Surma, H. B. (Autor:in) / Lopez, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    3 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    546