Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Application of Far-Infrared and Millimeter Wave Techniques in Plasma Diagnostics in Hefei Tokamaks


    Beteiligte:
    Zhang, S. (Autor:in) / Wan, B. (Autor:in) / Jie, Y. (Autor:in) / Gao, X. (Autor:in) / Tong, X. (Autor:in) / Bao, Y. (Autor:in) / Yang, Y. (Autor:in) / Zhang, J. (Autor:in) / Cheng, Y. (Autor:in) / Poznyak, V. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3612



    Millimeter Wave Diagnostics for Vitrification Plants

    Sundaram, S.K. / Woskov, P.P. / Daniel, W.E. et al. | IEEE | 2006


    Millimeter wave diagnostics of materials and melts

    Sundaram, S.K. / Woskov, P.P. / Daniel, W.E. | IEEE | 2004


    Development of the Millimeter Wave Diagnostics on HL-2A

    Ding, X.T. / Liu, Z.T. / Shi, Z.B. et al. | IEEE | 2006



    Avic, hefei city set up an airline

    Perrett, Bradley | Online Contents | 2013