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    Titel :

    Topography measurement by normal-incidence reflection ptychography


    Beteiligte:
    Tang, Chao (Autor:in) / Rong, Lu (Autor:in) / Tan, Fangrui (Autor:in) / Li, Bing (Autor:in) / Wang, Dayong (Autor:in) / Zhao, Jie (Autor:in) / Wang, Yunxin (Autor:in)

    Kongress:

    Holography, Diffractive Optics, and Applications IX



    Erscheinungsdatum :

    2019-01-01


    Format / Umfang :

    1 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Normal Incidence Impedance Measurement at Elevated Temperatures

    Burd, David / Eversman, Walter | AIAA | 2011


    Normal incidence optical IC

    Kudryavtsev, S. V. / Mokhun, Igor I. / Roslyakov, S. N. et al. | SPIE | 1993


    Interpolated moire phase measurement topography

    Moore, J. H. / Institute of Physics; Applied Optics Division / Institution of Electrical Engineers et al. | British Library Conference Proceedings | 1990


    Normal-Incidence Soft-X-Ray Mirror

    Underwood, J. H. / Barbee, T. W., Jr. | NTRS | 1983