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    Titel :

    Numerische Untersuchung des lastabhängigen Lötstellenversagens von Vielschichtkondensatoren für Automotive-Anwendungen


    Beteiligte:
    Gleichauf, J. (Autor:in) / Maniar, Y. (Autor:in) / Wiese, S. (Autor:in)

    Kongress:

    11 Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL



    Erscheinungsdatum :

    2022-01-01


    Format / Umfang :

    1 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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