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    Titel :

    P8.10 Analysis of STI Thin-SOI LDMOS transistors for Smart Power and high frequency applications



    Kongress:

    5th, International conference on integrated power electronics systems ; 2008 ; Nuremberg, Germany



    Erscheinungsdatum :

    2008-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Also held on CD-ROM




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    In situ Defect-screening of Integrated LDMOS for Critical Automotive Applications

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    A Novel Built-In Methodology for Screening LDMOS Transistors to Achieve Zero Defects in the Automotive Environment

    Malandruccolo, V. / Ciappa, M. / Fichtner, W. et al. | British Library Conference Proceedings | 2010


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    Hower, P. / VDE/VDI Society Microelectronics | British Library Conference Proceedings | 2000


    HF-Halbleiter: Im HF-Technologie-Rennen: GaN und LDMOS

    British Library Online Contents | 2006