Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Robustness Validation - An improved Qualification Procedure for Semiconductor Devices



    Kongress:

    International Congress; 13th, Electronic systems for vehicles; Elektronik im Kraftfahrzeug ; 2007 ; Baden-Baden, Germany



    Erscheinungsdatum :

    2007-01-01


    Format / Umfang :

    12 pages


    Anmerkungen:

    Papers in German and English, with German and English abstracts; Also held on CD-ROM




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




    Robustness Validation - An Improved Qualification Method for Semiconductor Devices in Automotive (Invited paper)

    Keller, H. / VDE; European Center for Power Electronics | British Library Conference Proceedings | 2008





    Robustness Validation

    Kanert,W. / Preussger,A. / Infineon Technologies,DE | Kraftfahrwesen | 2014