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    Titel :

    TC5-20 Continuous-wave THz Imaging For Non-Destructive Testing Applications


    Beteiligte:
    Karpowicz, N. (Autor:in) / Redo, A. (Autor:in) / Zhong, H. (Autor:in) / Li, X. (Autor:in) / Xu, J. (Autor:in) / Zhang, X.-C. (Autor:in) / Button, K. J. / Neil, G. R.

    Kongress:

    30th, 13^t^h International Conference on Terahertz Electronics; International conference on infrared and millimeter waves; IRMMW-THz 2005 ; 2005 ; Williamsburg, VA



    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and index



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Continuous-wave terahertz imaging for non-destructive testing applications

    Karpowicz, N. / Redo, A. / Hua Zhong, et al. | IEEE | 2005


    Destructive and non-destructive testing

    Galton, F.T. | Engineering Index Backfile | 1957



    Thermal Imaging for Non-Destructive Testing in Aerospace

    Makkay, I. / Kaunas University of Technology | British Library Conference Proceedings | 2012


    Non-destructive testing

    Engineering Index Backfile | 1939