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    Titel :

    Diode-laser-based diagnostic for NCI(X) [4971-03]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference; 4th, Gas and chemical lasers and intense beam applications ; 2003 ; San Jose, CA



    Erscheinungsdatum :

    2003-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4971

    DataCite | 1940


    Isolationsprüfer Zchg No. 4971

    Siemens und Halske, Werk, Berlin | TIBKAT | 1896


    High-repetition-rate excimer laser for micromachining [4971-16]

    Herbst, L. / Klaft, I. / Wenzel, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Advanced iodine lasers (Invited Paper) [4971-01]

    McDermott, W. E. / Coombe, R. / Gilbert, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Mulitwatt all gas-phase iodine laser (AGIL) (Invited Paper) [4971-07]

    Manke, G. C. / Cooper, C. B. / Dass, S. C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003