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    Titel :

    Vision-based algorithms for high-accuracy measurements in an industrial bakery [4567-20]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Machine vision and three dimensional imaging systems for inspection and metrology ; 2001 ; Newton, MA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Nr. 4567

    DataCite | 1933


    Scanning machine vision for fiber optic connector inspection [4567-36]

    Kipman, Y. / Wolin, D. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2002


    Machine vision systems using machine learning for industrial product inspection [4567-28]

    Lu, Y. / Chen, T. Q. / Chen, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002


    Grayscale template-matching using finite-state machines [4567-18]

    Waltz, F. M. / Miller, J. W. V. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2002


    Grassfire transform using finite-state machines [4567-19]

    Waltz, F. M. / Miller, J. W. V. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2002