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    Titel :

    Full-field surface measurement technique for optical metrology applications [4595-49]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Photonic systems and applications ; 2001 ; Singapore



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4595

    DataCite | 1933


    Optical coherence tomography in scattering material for industrial applications [4595-47]

    Alarousu, E. / Myllyla, R. A. / Gurov, I. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


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    George, S. D. / Kurian, A. / Lase, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


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