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    Titel :

    An Electro-Optic Probing System for Near Electric Field Measurement Using Heterodyne Method


    Beteiligte:
    Kuo, W. K. (Autor:in) / Pai, C. H. (Autor:in) / Huang, S. L. (Autor:in) / InterOpto / IEEE

    Kongress:

    Pacific Rim conference; 4th, Lasers and electro-optics; CLEO/Pacific Rim 2001 ; 2001 ; Chiba, Japan



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    I-474-475


    Anmerkungen:

    Held with InterOpto2001. IEEE cat no 01TH8557



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    An electro-optic mapping system of near electric-field using heterodyne method

    Kuo, W.K. / Pai, C.H. / Huang, S.L. et al. | IEEE | 2003


    An electro-optic mapping system of near electric-field using heterodyne method

    Kuo, W. K. / Pai, C. H. / Huang, S. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    On-wafer dual-beam electro-optic probing of electric-field vector

    Kuo, W.K. / Huang, S.L. / Chang, L.C. | IEEE | 1997


    Optical heterodyne characterization of high speed devices using near-field fiber optic probes

    Seok Kil Han, / Kwang-Yong Kang, / Ali, M.E. et al. | IEEE | 1999