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    Titel :

    Nanolithography on silicon surface using a tuning fork STM/AFM [4416-81]


    Beteiligte:

    Kongress:

    International conference, Optical engineering for sensing and nanotechnology ; 2001 ; Yokohama, Japan



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4416

    DataCite | 1930


    High-precision triangulation sensing of mirror surface [4416-93]

    Mikhlyaev, S. V. / Optical Society of Japan / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2001


    Molecular-based chiroptical dipole switches [4416-71]

    Parakka, J. P. / Schumaker, R. R. / Kesler, B. S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Optical testing using Shack-Hartmann wavefront sensors [4416-60]

    Greivenkamp, J. E. / Smith, D. G. / Gappinger, R. O. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Holographic interferometry with additional shadowgraph visualization [4416-55]

    Kleine, H. / Takayama, K. / Optical Society of Japan et al. | British Library Conference Proceedings | 2001