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    Titel :

    Optimization of air gap for two-dimensional imaging system using synchrotron radiation [4146-21]


    Beteiligte:
    Zeniya, T. (Autor:in) / Takeda, T. (Autor:in) / Yu, Q. (Autor:in) / Hyodo, K. (Autor:in) / Yuasa, T. (Autor:in) / Aiyoshi, Y. (Autor:in) / Hiranaka, Y. (Autor:in) / Itai, Y. (Autor:in) / Akatsuka, T. (Autor:in) / Kaiser, W. M.

    Kongress:

    Conference, Soft x-ray and EUV imaging systems ; 2000 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    2000-01-01


    Format / Umfang :

    12 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4146

    DataCite | 1925


    Multilayer reflectance during exposure to EUV radiation [4146-07]

    Oestreich, S. / Klein, R. / Scholze, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    High-resolution soft x-ray microscopy [4146-24]

    Chao, W. / Anderson, E. H. / Denbeaux, G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    Portable diagnostics for EUV light sources [4146-13]

    Stuik, R. / Constantinescu, R. C. / Hegeman, P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    DUV or EUV: that is the question [4146-01]

    Williamson, D. M. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 2000