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    Titel :

    In-situ Radiation Tests of Memory Devices


    Beteiligte:

    Kongress:

    European space components conference; ESCCON 2000 ; 2000 ; Noordwijk, Netherlands



    Erscheinungsdatum :

    2000-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Also known as ESCCON 2000



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    In situ radiation tests of memory devices

    Brüggemann, M. / Fichna, T. / Gärtner, M. et al. | Tema Archiv | 2000


    In Situ Radiography During Tensile Tests

    Baaklini, George Y. / Bhatt, Ramakrishna T. | NTRS | 1994



    In-Situ Ice Ridge Scour Tests

    Liferov, P. / Moslet, P. O. / Loset, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005