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    Titel :

    Characteristics and compensation of the thickness effect in quantitative NEXAFS measurements [3449-32]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Meeting, X-Ray microfocusing: applications and techniques ; 1998 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    1998-01-01


    Format / Umfang :

    13 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 3449

    DataCite | 1911


    Advanced zone plate microfocusing optics [3449-22]

    Lai, B. P. / Yun, W. / Maser, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Effects of feature orientation in tomographic reconstructions [3449-06]

    Kalukin, A. R. / Levine, Z. H. / Frigo, S. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Using x-ray microprobes for environmental research [3449-09]

    Kemner, K. M. / Yun, W. / Cai, Z. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Phase zone plates for hard x-ray microscopy [3449-19]

    Kaulich, B. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1998