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    Titel :

    Precise measurement of nonoptical surfaces by an oblique incidence interferometer [3478-20]



    Kongress:

    Conference; 9th, Laser interferometry: applications ; 1998 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    1998-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nonoptical surface measurement by oblique incidence interferometry [2860-34]

    Otani, Y. / Okuhara, N. / Yoshizawa, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Nr. 3478

    DataCite | 1912


    Direct group-delay measurement and 3D profilometry using a white-light interferometer [3478-06]

    Liang, Y. / Wu, Q. M. J. / Grover, C. P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998



    Fourier transform moire deflectometry [3478-42]

    Wang, M. / Li, D. / Zhong, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998