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    Titel :

    Wide-scale surface measurement using white light interferometry and atomic force microscopy [3479-04]



    Kongress:

    Conference; 9th, Laser interferometry: applications ; 1998 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    1998-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Surface topography by wavelength scanning interferometry [3479-03]

    Yamaguchi, I. / Yamamoto, A. / Yano, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Autoanalysis system for stroboscopic holographic interferometry [3479-29]

    Wang, X. / Kang, M. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1998


    Subnanometer laser metrology for spacecraft interferometry [3479-08]

    Leitch, J. W. / Kopp, G. A. / Noecker, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998


    Measurement of the electrical resistance of aluminum samples by holographic interferometry [3479-38]

    Habib, K. J. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1998


    Nr. 3479

    DataCite | 1912