Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Functional Testability Measures Based on Information Flow



    Kongress:

    National aerospace and electronics conference ; 1996 ; Dayton; OH



    Erscheinungsdatum :

    1996-01-01


    Format / Umfang :

    5 pages


    Anmerkungen:

    Also known as NAECON 1996. IEEE Cat nos 96CH35934 and 96CB35934




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Research on functional safety testability of vehicle gauge chip

    Guo, Wei / Wang, Xiyang / Xi, Wenxia | SPIE | 2023


    Testability for all seasons

    Hartwell, R.E. | Tema Archiv | 1990


    VLSI design for testability

    MCCLUSKEY, E. | AIAA | 1984


    Service initiatives in testability

    Keiner, W.L. / Coppola, A. / Drummond, R.R. | Tema Archiv | 1984