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    Titel :

    Elliptical wiggler beam line with minimum focal spot size at the ALS [2516-29]


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, X-ray microbeam technology and applcations ; 1995 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    1995-01-01


    Format / Umfang :

    12 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 2516

    DataCite | 1893


    Hard x-ray microanalytical beam line at the CAMD synchrotron [2516-22]

    Petri, M. C. / Leibowitz, L. / Schilling, P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    BESSY Bragg-Fresnel multilayer beam monitors [2516-27]

    Holldack, K. / Erko, A. I. / Peatman, W. B. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    Parameter optimization for producing an elliptical surface from a spherical surface by differential deposition [2516-06]

    Cai, Z. / Yun, W. / Plag, P. et al. | British Library Conference Proceedings | 1995


    Magnetic x-ray measurements using the elliptical multipole wiggler [3773-30]

    Montano, P. A. / Li, Y. / Ruett, U. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999