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    Titel :

    Detection of secondary reflections using morphology [2347-28]



    Kongress:

    Conference, Machine vision applications, architectures, and systems integration III ; 1994 ; Boston; MA



    Erscheinungsdatum :

    1994-01-01


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 2347

    DataCite | 1890


    Application of SKIPSM to binary morphology [2347-37]

    Waltz, F. M. / Garnaoui, H. H. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994


    Application of SKIPSM to gray-level morphology [2347-40]

    Waltz, F. M. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994


    Automatic inspection of leather surfaces [2347-06]

    Poelzleitner, W. / Niel, A. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994


    HyperCard lighting advisor [2347-18]

    Batchelor, B. G. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994